โซลูชันของ Comet Yxlon สำหรับการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ด้วยรังสีเอกซ์

ความเร็ว, ความละเอียด, 2D หรือ 3D - ขึ้นอยู่กับการนำไปใช้ ผู้ผลิตมีความสำคัญที่แตกต่างกันเมื่อทำการตรวจสอบผลิตภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์ Comet Yxlon นำเสนอระบบตรวจสอบด้วยรังสีเอกซ์และ CT ที่หลากหลาย ซึ่งออกแบบมาเพื่อตอบสนองงานตรวจสอบเฉพาะทาง

การตรวจเอกซเรย์แบบสองมิติ

การสร้างภาพอย่างรวดเร็ว เหมาะสำหรับการตรวจสอบระหว่างกระบวนการ
การใช้งานหลัก: บรรจุภัณฑ์แบบดั้งเดิม
การตรวจสอบการบัดกรีลวดแบบง่าย, รูผ่าน และบัดกรีบับ
พร้อมใช้งานกับ Cheetah และ Cougar - ภาพที่ดีที่สุดในเวลาที่สั้นที่สุดด้วยความละเอียดระดับต่ำกว่าไมโครเมตร

การถ่ายภาพลามิโนกราฟีด้วยคอมพิวเตอร์ (CL)

การกำหนดคุณสมบัติเชิงพื้นที่ของส่วนประกอบตลอดจนตำแหน่งและขนาดของข้อบกพร่อง
การใช้งานหลัก: การบรรจุขั้นสูง
การตรวจสอบโดยการสุ่มตัวอย่างของแพ็กเกจหลายชั้นและอุปกรณ์รวม
พร้อมใช้งานสำหรับ Cheetah และ Cougar ที่มีเส้นทางลำแสงแนวตั้งและความละเอียดสูงสุด รวมถึงสำหรับระบบ FF20 CT และ FF35 CT ที่มีเส้นทางลำแสงแนวนอน

การถ่ายภาพด้วยคอมพิวเตอร์แบบตัดขวางสามมิติ (ซีที)

การวัดแบบสามมิติเพื่อกำหนดคุณสมบัติเชิงพื้นที่ ตำแหน่งและขนาดของข้อบกพร่อง
การใช้งานหลัก: การวิเคราะห์ข้อบกพร่องอย่างละเอียด
พร้อมใช้งานกับระบบ FF20 CT และ FF35 CT ด้วยการควบคุมที่ใช้งานง่ายผ่านอินเทอร์เฟซผู้ใช้ Geminy และสามารถเพิ่มเป็นอุปกรณ์เสริมกับ Cheetah และ Cougar
การวัดเชิงมาตรวิทยาด้วยเอกซเรย์คอมพิวเตอร์

ตอบกลับโฆษณา

หมวดหมู่
ข้อเสนอ

ประเทศ
Germany